砷化鎵是屬于閃鋅礦型晶體類型，砷化鎵是鎵和砷兩種元素所合成的化合物，也是重要的IIIA族、VA族化合物半導(dǎo)體材料，用來(lái)制作微波集成電路、紅外線發(fā)光二極管、半導(dǎo)體激光器和太陽(yáng)電池等元件。

檢測(cè)樣品：砷化鎵外延片、單晶、晶片、載流子等。

檢測(cè)項(xiàng)目：外形尺寸、表面質(zhì)量、偏離度檢測(cè)、切口測(cè)試、電學(xué)性能檢測(cè)、載流子濃度測(cè)試、電阻率檢測(cè)、截面電阻率不均勻性、遷移率測(cè)試、位錯(cuò)密度、電學(xué)性能、導(dǎo)電類型、霍爾遷移率、電阻率檢測(cè)、位錯(cuò)密度檢測(cè)等。

GB/T 8757-2006砷化鎵中載流子濃度等離子共振測(cè)量方法

GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法

GB/T 8760-2020砷化鎵單晶位錯(cuò)密度的測(cè)試方法

GB/T 11068-2006砷化鎵外延層載流子濃度電容-電壓測(cè)量方法

GB/T 11093-2007液封直拉法砷化鎵單晶及切割片

GB/T 11094-2020水平法砷化鎵單晶及切割片

GB/T 20228-2021砷化鎵單晶

GB/T 25075-2010太陽(yáng)能電池用砷化鎵單晶

SJ 3242-1989砷化鎵外延片

SJ 20714-1998砷化鎵拋光片亞損傷層的X射線雙晶衍射試驗(yàn)方法

SJ/T 11497-2015砷化鎵晶片熱穩(wěn)定性的試驗(yàn)方法

1.擁有眾多先進(jìn)儀器設(shè)備并通過(guò)CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。

2.科學(xué)的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運(yùn)轉(zhuǎn)。

3.技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富，可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。

4.服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球，眾多一線品牌指定合作實(shí)驗(yàn)室。